(pozorovanie mikroštruktúry a defektov v širokom spektre materiálov pomocou svetelnej mikroskopie)

Laboratórium je zamerané na operatívne pozorovanie vnútornej stavby a mikroštruktúry materiálov v širokom rozsahu zväčšení od bežných optických zväčšení na úrovni 10-x až po atómové zväčšenia prostredníctvom kombinácie viacerých techník. Základom je svetelná mikroskopia v svetlom a tmavom poli, polarizovanom svetle a pomocou interferenčného kontrastu s možnosťou rýchleho a kvalitného digitálneho záznamu s vysokým rozlíšením. Konvenčná svetelná mikroskopia je doplnená o konfokálnu mikroskopiu a optickú profilometriu na báze optickej interferencie na rýchle pozorovanie a meranie trojrozmerných povrchov objektov v širokom rozsahu zväčšení a značnou hĺbkou ostrosti. Ďalšími technikami sú svetelná mikroskopia kombinovaná s Ramanovským spektrometrom na rýchle merania lokálnych väzieb a mikroskopia atomárnych síl (AFM) pre extrémne zväčšenia a atómové rozlíšenie.

1. Stemi 2000 C stereomikroskop (Carl Zeiss, Nemecko) - na rýchle pozorovanie povrchov v rozsahu zväčšení od 0,65 - 50x s CCD kamerou a ohniskovou vzdialenosťou do 92 mm. 2. Axio Observer 1M, invertovaný optický mikroskop moderný svetelný mikroskop (Carl Zeiss, Nemecko) - s rozsahom zväčšení 25x - 1000x pre prácu v svetlom poli, tmavom poli, v polarizovanom svetle a v režime diferenciálneho interferenčného kontrastu (DIC).

3. Neox Plu konfokálny mikroskop/optický profilometer (Sensofar, Španielsko) - na pozorovanie a meranie členitých povrchov v rozsahu zväčšení 50 - 1500x s výborným rozlíšením osi Z vhodný na rýchle nekontaktné meranie drsnosti povrchov (bodová, čiarová, plošná analýza) a priečnych profilov (napr. získaných zo stôp po skúškach opotrebenia, vrypových skúškach, indentačných skúškach), vrátane hrúbky tenkých vrstiev.

4. XploRA Ramanovský mikroskop (Horiba Yvon Jobin, Francúzsko) - výskumný disperzný Ramanovský mikroskop s troma excitačnými lasermi s rôznou vlnovou dĺžkou, automaticky prepínateľnými mriežkami spektrografu, spektrálnym rozlíšením lepším ako 3,4 cm-1, rýchlym a presným automatizovaným mapovaním a vyhodnocovacím softwarom kombinovaný s optickým mikroskopom umožňujúcim pozorovanie v svetlom a tmavom poli.

Kontakt

ÚMV SAV
Watsonova 47, 040 01 Košice
Tel.: +421-55-7922 453
Fax: +421-55-7922 408
www.imr.saske.sk